testing什么意思（60个与芯片制造有关的英语词汇）
100次浏览 发布时间：2024-12-09 08:57:28
- Semiconductor [ˌsɛmikənˈdʌktər] - 半导体
- Integrated circuit [ˈɪntɪɡreɪtɪd ˈsɜːrkɪt] - 集成电路
- Transistor [trænˈzɪstər] - 晶体管
- Diode [ˈdaɪoʊd] - 二极管
- Capacitor [kəˈpæsɪtər] - 电容器
- Resistor [rɪˈzɪstər] - 电阻器
- Inductor [ˈɪndʌktər] - 电感器
- Microprocessor [ˌmaɪkroʊˈprɑːsɛsər] - 微处理器
- Memory [ˈmɛməri] - 存储器
- Clock [klɑːk] - 时钟
- Voltage [ˈvoʊltɪdʒ] - 电压
- Current [ˈkɜːrənt] - 电流
- Power [ˈpaʊər] - 功率
- Gate [ɡeɪt] - 门
- Silicon [ˈsɪlɪkən] - 硅
- Wafer [ˈweɪfər] - 晶圆
- Die [daɪ] - 芯片
- Package [ˈpækɪdʒ] - 封装
- Substrate [ˈsʌbstrɪt] - 衬底
- Etching [ˈɛtʃɪŋ] - 蚀刻
- Lithography [lɪˈθɑːɡrəfi] - 光刻
- Doping [ˈdoʊpɪŋ] - 掺杂
- Diffusion [dɪˈfjuːʒən] - 扩散
- Ion implantation [ˌaɪɑːn ˌɪmplænˈteɪʃən] - 离子注入
- Photolithography [ˌfoʊtoʊlɪˈθɑːɡrəfi] - 光刻技术
- Deposition [dɪˈpɒzɪʃən] - 沉积
- Oxidation [ˌɑːksɪˈdeɪʃən] - 氧化
- Metallization [ˌmɛtəlaɪˈzeɪʃən] - 金属化
- Interconnect [ˌɪntərkəˈnɛkt] - 互连
- Flip-flop [ˈflɪpˌflɑːp] - 触发器
- Multiplexer [ˈmʌltɪˌplɛksər] - 多路复用器
- Demultiplexer [ˌdiːˈmʌltɪˌplɛksər] - 分路器
- Logic gate [ˈlɑːdʒɪk ɡeɪt] - 逻辑门
- NAND gate [nænd ɡeɪt] - 与非门
- NOR gate [nɔːr ɡeɪt] - 或非门
- XOR gate [ˌɛksˌɔːr ɡeɪt] - 异或门
- XNOR gate [ˌɛksˌnɔːr ɡeɪt] - 同或门
- AND gate [ænd ɡeɪt] - 与门
- OR gate [ɔːr ɡeɪt] - 或门
- NOT gate [nɑːt ɡeɪt] - 非门
- CMOS [ˈsiːmɑːs] - 互补金属氧化物半导体
- NMOS [ˈɛnˌmɑːs] - 负型金属氧化物半导体
- PMOS [ˈpiːˌmɑːs] - 正型金属氧化物半导体
- FPGA [ˌɛfpiːˈdʒiːˈeɪ] - 现场可编程门阵列
- ASIC [ˈeɪsɪk] - 应用特定集成电路
- SoC [ˌɛsˌoʊˈsiː] - 系统级芯片
- MEMS [mɛmz] - 微机电系统
- VLSI [ˌviːˌɛlˌɛsˈaɪ] - 超大规模集成电路
- CAD [kæd] - 计算机辅助设计
- EDA [ˌiːˌdiːˈeɪ] - 电子设计自动化
- Yield [jiːld] - 良率
- Defect [dɪˈfɛkt] - 缺陷
- Reliability [rɪˌlaɪəˈbɪləti] - 可靠性
- Failure analysis [ˈfeɪljər əˈnæləsɪs] - 失效分析
- Burn-in [ˈbɜːrnˌɪn] - 烧录
- Testing [ˈtɛstɪŋ] - 测试
- Yield rate [jiːld reɪt] - 良率
- Wafer fabrication [ˈweɪfər ˌfæbrɪˈkeɪʃən] - 晶圆制造
- Cleanroom [ˈkliːnˌrum] - 净化室
- Dielectric [ˌdaɪɪˈlɛktrɪk] - 介电体
光刻机
